xray检测设备和泛工业应用的区别（使用源表测试IV参数的典型应用）

xray检测设备和泛工业应用的区别（使用源表测试IV参数的典型应用）2601B、2602B和2604B的I-V测试功能2611B、2612B和2614B的I-V 测试功能2634B、2635B和2636B的I-V 测试功能

各种器件的I-V功能测试和特征分析，包括：

• 分立和无源元件
  – 两抽头器件——传感器、磁盘驱动器头、金属 氧化物可变电阻（MOV）、二极管、齐纳二极 管、电容、热敏电阻
  – 三抽头器件——小信号双极结型晶体管（BJT）场效应晶体管（FET），等等
• 简单IC器件——光学器件、驱动器、开关、传感 器、转换器、稳压器
• 集成器件——小规模集成（SSI）和大规模集成（LSI） – 模拟IC
  – 射频集成电路（RFIC）
  – 专用集成电路（ASIC）
  – 片上系统（SOC）器件
• 光电器件，例如发光二极管（LED）、激光二极管高亮度LED（HBLED）、垂直腔面发射激光器 （VCSEL）、显示器
• 圆片级可靠性
  – NBTI、TDDB、HCI、电迁移
• 太阳能电池
• 电池
• 更多…

2604B/2614B型仪表的背板
(单通道2601B 2611B 2635B没有给出)。

2636B型仪表的背板

在第一和第三象限，2600B系列仪器用作信号源，向负载提供 电源。在第二和第四象限，2600B系列仪器用作信号宿，内部 消耗功率。

2601B、2602B和2604B的I-V测试功能

2611B、2612B和2614B的I-V 测试功能

2634B、2635B和2636B的I-V 测试功能