红外线塑料薄膜测厚仪（CHY-CA薄膜测厚仪）
红外线塑料薄膜测厚仪（CHY-CA薄膜测厚仪）基础应用：应用材料：仪器的测试原理为：将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。CHY-CA 薄膜测厚仪的执行标准：该仪器符合多项国家和国际标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
薄膜测厚仪，顾名思义为用于塑料薄膜材料的厚度检测的专业测量仪器。其名称为“薄膜测厚仪”，行业中又被称为薄膜厚度测量仪、薄膜厚度仪、薄膜厚度测试仪等等。一般来说，仪器能够测量的材料包括：塑料薄膜、薄片、塑料片材、铝箔、铜箔、电池隔膜、纸张、纸板等材料的厚度。
从薄膜厚度测量方式不同的角度来划分，薄膜测厚仪可分为接触式和非接触式两种，即测量薄膜厚度时仪器是否接触到测试样品本身。
赛成仪器自主研发生产的“CHY-CA 薄膜测厚仪”，是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。该仪器严格按照相关标准要求设计制造，采用机械接触式测试原理，非常适合薄膜材料进行厚度的高精度测量，是企业进行产品厚度技术指标质量控制的必备仪器。
CHY-CA 薄膜测厚仪是严格按照标准设计的接触面积和测量压力，同时支持各种非标定制，测试过程中测量头自动升降，有效避免了人为因素造成的系统误差，可选系统自动进样，进样步距、测量点数和进样速度等相关参数均可由用户自行设定，实时显示测量结果的最大值、最小值、平均值以及标准偏差等分析数据，方便用户进行判断。
仪器的测试原理为：将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。
CHY-CA 薄膜测厚仪的执行标准：
该仪器符合多项国家和国际标准：GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、BS 3983、BS 4817
应用材料：
基础应用：
- 薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定
- 纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定
扩展应用：
- 金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定
- 瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定
- 纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定
- 非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾、医用口罩等的厚度测定
- 其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定
CHY-CA 薄膜测厚仪的技术标准：
测试范围：0 ~ 2 mm（常规）；0 ~ 6 mm；10 mm（可选）
分 辨 率：0.1 μm
测量压力：17.5±1 kPa（薄膜）；50±1 kPa（纸张）
接触面积：50 mm2（薄膜）；200 mm2（纸张），注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
进样步距：0 ~ 1000 mm
进样速度：0.1 ~ 99.9 mm/s
电 源：AC 220 V 50 Hz
外形尺寸：461 mm (L) × 334 mm (W) × 357 mm (H)
净 重：25 kg
济南赛成仪器一直致力于为大部分国家客户提供高性价比的整体解决方案，公司的核心宗旨就是持续创新，打造高精尖检测仪器，满足行业内不同客户的品控需求，期待与行业内的企事业单位增进交流和合作。
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