奥林巴斯is5000使用说明书（工业领域缺陷检测专家）

奥林巴斯is5000使用说明书（工业领域缺陷检测专家）OmniScan X3 64增加的激发通道数量允许您充分利用64晶片探头的孔径，在缺陷位置聚焦获得更高的分辨率。聚焦更加锐利更低的电压下限OmniScan X3 64探伤仪可实现低至5 V（双极）的脉冲电压。可以有效地防止始脉冲信号或界面波信号的饱和，提高了渡越时间的测量精度。64通道同时激发，

自奥林巴斯全新64通道版本OmniScan X3 64:128推出后，其不俗的表现以及优异的性能备受推崇。

而OmniScan X3 64:128的诸多功能，正是其备受欢迎的原因。

多档双极方波 & 更大脉冲宽度

同一探头，在最高电压激励下接收的信号拥有近似的波幅高度。同时，拥有更大的脉冲宽度，可匹配更新频率的探头。

更低的电压下限

OmniScan X3 64探伤仪可实现低至5 V（双极）的脉冲电压。可以有效地防止始脉冲信号或界面波信号的饱和，提高了渡越时间的测量精度。

64通道同时激发，

聚焦更加锐利

OmniScan X3 64增加的激发通道数量允许您充分利用64晶片探头的孔径，在缺陷位置聚焦获得更高的分辨率。

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支持128晶片全聚焦，

成像质量更加细腻

OmniScan X3 64:128探伤仪可使用128晶片探头的所有孔径，这可以显著提高分辨率并增加波束覆盖范围。

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支持大尺寸一发一收探头，

适用厚壁奥氏体焊缝检测

OmniScan X3 64 :128增加的激发通道数量支持更大的双线性和双矩阵阵列探头，可显著提高更深检测范围的分辨率和灵敏度。

增强高衰减材料检测效果

OmniScan X3 64:128探伤仪在高声衰减材料中提供更好的信号穿透能力。它的1000纳秒脉冲宽度频率容量（真正的0.5兆赫脉冲）和0.2兆赫较低的带宽使您能够使用更低频率的探头，提高扫描高衰减材料整个体积的能力，如玻璃纤维和其他复合材料。