智能芯片可靠性测试设备解决方案（新产品新一代国产高端芯片测试设备BC3192EX超大规模集成电路测试系统）

智能芯片可靠性测试设备解决方案（新产品新一代国产高端芯片测试设备BC3192EX超大规模集成电路测试系统）配置灵活，性能优良，适用范围广，性价比高，高速高并测系统特点：BC3192EX测试系统基于开放式系统总线，易于扩展、升级，可插入不同功能模块，实现灵活的测试配置，系统可实现多时域并行测试，是业界领先的高性价比的系统级测试平台。BC3192EX测试系统可与多种主流的探针台、分选机对接，适用于芯片生产厂和电子整机厂进行生产测试（中测和成测）及IC使用单位进行器件入厂检测、质量评估或芯片性能研究，可对器件进行动态功能、直流参数和交流参数测试。BC3192EX测试系统是新型集成电路设计验证系统和集成电路产品测试系统。系统每通道板可提供64路数字通道，可根据需要配置为64/128/256/512/768路数字通道，以满足不同规模芯片测试的需求。

为应对新一代消费类电芯片、工业控制芯片和智能卡芯片高速发展带来的海量测试需求，北京自动测试技术研究所有限公司突破了高同测数测试技术、高速测试板信号和电源完整性等关键技术，开发出BC3192EX超大规模集成电路测试系统。

BC3192EX及适配器示例

产品简介：

BC3192EX超大规模集成电路测试系统是针对先进的高集成度、高速、大容量、高并测芯片测试需求开发的新型测试系统。系统具备高速度、高密度、低功耗、高稳定度特性，可为IC测试业提供更高的测试效率。

BC3192EX测试系统基于开放式系统总线，易于扩展、升级，可插入不同功能模块，实现灵活的测试配置，系统可实现多时域并行测试，是业界领先的高性价比的系统级测试平台。

BC3192EX测试系统可与多种主流的探针台、分选机对接，适用于芯片生产厂和电子整机厂进行生产测试（中测和成测）及IC使用单位进行器件入厂检测、质量评估或芯片性能研究，可对器件进行动态功能、直流参数和交流参数测试。

BC3192EX测试系统是新型集成电路设计验证系统和集成电路产品测试系统。系统每通道板可提供64路数字通道，可根据需要配置为64/128/256/512/768路数字通道，以满足不同规模芯片测试的需求。

系统特点：

配置灵活，性能优良，适用范围广，性价比高，高速高并测

应用范围：

● 芯片量产测试——为集成电路测试企业提供圆片和成品芯片的批量测试服务。

● 可靠性试验服务——为研究机构和企业提供测试分析和测试试验服务。

● 验证测试服务——为设计公司提供系统测试、元器件测试、故障诊断。

BC3192EX参数表

BC3192EX测试系统可测芯片类型广泛，包括逻辑类IC、存储器类IC、智能卡类IC、高速总线类IC、通信接口类IC、驱动类IC、AD/DA类IC、音/视频类IC、数字电视/网络类IC、图形编解码类IC、CMOS传感器类IC、MCU、CPU、DSP、CPLD、FPGA等芯片。同时还具备丰富的测试程序库和大量复杂芯片的测试解决方案。

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