反应能力测试器的背景（反应能力测试器电路）

反应能力测试器的背景（反应能力测试器电路）有兴趣的小伙伴可以尝试一下！！！3.4069芯片空余输入端悬空即可。电源接通后，电路就开始工作， 发光二极管不停地循环发光。S1为测试开关，按下此键后，将U2的EN端(第13脚)置于高电平，计数器停止工作并将输出结果予以保留，发光二极管显示为最后 一个输入脉冲时的状态。1.测试工作由测试人和被测试人组成，测试时可由测试人随机指定一只发光二极管作为停止位置。例如指定为LED2，被测试者须在按下测试按键S1后正好使LED2发光，测试者若按早了就会使LED1发光，按晚了又会使LED3发光。以此方法作为测试的基本标准来判断被测试者的反应灵敏度。2.4017芯片的输出端可随意调整、组合，多谐自激振荡器的频率也可以调整，以增加或降低测试难度。

反应能力测试器可用来检测和训练人的快速反应能力，它有多种结构形式，下面介绍的这个反应能力测试仪，采用十进制计数器4017与若干发光二极管组成，结构较为简单，可作为一种玩具来训练和测试儿童的快速反应能力。电路原理图见图所示。

反应能力测试器

原理简介

从原理图中可以看出，这个电路利用十进制计数器4017的输出端驱动一组发光二极管，采用时钟脉冲发生器驱动计数器，使它的输出端不断循环地变换输出，发光二极管轮流变换发光。发光二极管的变换速度可通过改变多谐振荡器的电阻或电容参数，提高或降低时钟脉冲发生器的振荡频率来控制。

时钟脉冲发生器由U1、R1、C1等组成多谐振荡发生电路，经过U1第6脚缓冲、整形后送至U2的CP端(第14脚)，U2 组成发光二极管驱动电路，在时钟脉冲的驱动下，输出端Q0 ~ Q9依次输出高电平，驱动发光二极管依次发光。为了增加训练和测试难度，本电路只使用了十个输出端中的七个，而且采用了对输出端与发光二极管的不均匀连接，使被测试者难以掌握发光二极管的变化规律，有利于提高测试效果。本电路中的不均匀连接是将输出端中的Q0、Q1、Q7空置，并将Q5与Q6合并。这样，发光二极管的显示将呈现快、慢、间隔不均匀，以增加测试难度，让测试者不容易掌握显示规律。

电源接通后，电路就开始工作， 发光二极管不停地循环发光。S1为测试开关，按下此键后，将U2的EN端(第13脚)置于高电平，计数器停止工作并将输出结果予以保留，发光二极管显示为最后 一个输入脉冲时的状态。

实验提示

1.测试工作由测试人和被测试人组成，测试时可由测试人随机指定一只发光二极管作为停止位置。例如指定为LED2，被测试者须在按下测试按键S1后正好使LED2发光，测试者若按早了就会使LED1发光，按晚了又会使LED3发光。以此方法作为测试的基本标准来判断被测试者的反应灵敏度。

2.4017芯片的输出端可随意调整、组合，多谐自激振荡器的频率也可以调整，以增加或降低测试难度。

3.4069芯片空余输入端悬空即可。

有兴趣的小伙伴可以尝试一下！！！