荧光光谱仪说明书（台式荧光光谱仪怎样选用和比较探测器）

荧光光谱仪说明书（台式荧光光谱仪怎样选用和比较探测器）尽管波长色散X射线光谱仪由于使用分光晶体而达到约12eV的分辨率，但最新的能量探测器已可达到4eV，在分辨率方面已取得优势。目前许多厂家已推出了成功的能量色散X射线光谱仪，波长色散与能量色散在X射线光谱仪中的份额已发生明显变化，能量色散X射线光谱仪的比重显著增加。事实上，如果新型能量探测器在计数率和制造工艺的稳定性方面能取得突破，则能量色散X射线光谱仪有可能在未来逐步取代复杂的波长色散X射线光谐仪系统，成为X射线荧光光谱分析领域的主流。 Si(Li)探测器目前主要应用于能量色散X射线光谐仪。就能量探测器而言，Si(Li)、Si-PIN、高纯Ge(HPGe）探测器已得到广泛使用，SDD、CDD等则主要应用于获取成分及多维信息。由于Si(Li）探测器等没有增益，故需要前置放大器。 NaI闪烁计数器适用波长范围0.02~0.2/nm，平均能量/离子对350eV，电子数23/光子，分辨率3.0/k

在精密仪器台式荧光光谱仪中，探测器是很重要的一环，它的重要作用是接受和分辨信号，由于探测器性能的不同，在选用探测器时，就需要综合考虑多种因素。好的探测器不仅需要具有高分辨率和高计数率，还需要有较宽的元素分析范围和有效活性区。其应用领域和使用环境等也是需要关注的重点之一。

台式荧光光谱仪

就目前常用的三种X射线探测器而言，产生一个离子对的平均能量，在Si(Li）探测器、流气式正比计数器、闪烁计数器之间大约相差一个量级，而分辨率与统一个光子产生的电子数的平方根成正比，故三者之间的分辨率也粗略相差三倍。由人射光子在探测器中产生的等价离子对数目与人射光子能量成正比，与产生离子对的平均能量成反比。

流气式正比计数器适用波长范围0.15～5.0/nm，平均能量/离子对26.4eV，电子数305/光子，分辨率1.2/keV。

NaI闪烁计数器适用波长范围0.02~0.2/nm，平均能量/离子对350eV，电子数23/光子，分辨率3.0/keV。

Si(Li)探测器适用波长范围0.05～0.8/nm，平均能量/离子对3.6cV，电子数2116/光子，分辨率0.16/keV。

流气式正比计数器主要用于轻元素分析，闪烁计数器用于重元素测定，此两种探测器由于分辨率低，必须与分光晶体同时使用，才能得到良好的谐线分辨效率，故主要用于波长色散X射线光谱仪。尽管曾经有一段时期流行用封闭式气体正比计数管作为现场分析仪，但由于分辨率太低，再加上温差电冷能量探测器的广泛采用，仅采用封闭式气体正比计数管的现场X射线分析仪在国际上已基本淘汰。

Si(Li)探测器目前主要应用于能量色散X射线光谐仪。就能量探测器而言，Si(Li)、Si-PIN、高纯Ge(HPGe）探测器已得到广泛使用，SDD、CDD等则主要应用于获取成分及多维信息。由于Si(Li）探测器等没有增益，故需要前置放大器。

尽管波长色散X射线光谱仪由于使用分光晶体而达到约12eV的分辨率，但最新的能量探测器已可达到4eV，在分辨率方面已取得优势。目前许多厂家已推出了成功的能量色散X射线光谱仪，波长色散与能量色散在X射线光谱仪中的份额已发生明显变化，能量色散X射线光谱仪的比重显著增加。事实上，如果新型能量探测器在计数率和制造工艺的稳定性方面能取得突破，则能量色散X射线光谱仪有可能在未来逐步取代复杂的波长色散X射线光谐仪系统，成为X射线荧光光谱分析领域的主流。