激光分析仪不受粉尘影响（在红气体外分析仪中）

激光分析仪不受粉尘影响（在红气体外分析仪中）各类干燥剂往往同时吸附其他组分 吸附量受环 境温度压力变化的影响 弄得不好反而会增大附加误差 这种方法仅适用于要求不高的常量分析。在微量分析或重要的分析场合 均应采用冷却器降温除水。THA100S 红外线气体分析仪减少或降低水分对待测组分的干扰 唯一有效办法是在预处理系统中除水脱湿 降低气样的露点。常用冷却器降温除水或干燥剂吸收除水。冷却器降温除水是一种较好的方法 可采用带温控系统的冷却器 将气样温度降至5℃ 以便保持气样中水含量恒定在0.85%左右 使它对待测组分产生的干扰恒定 造成的附加误差是恒定值 可加以扣除。

在红外气体分析仪中 所谓干扰组分是指与待测组分特征吸收波段有交叉或重叠的其他组分。下图为部分红外波段的气体特征吸收谱线图 从图中可以看出 许多组分的特征吸收波段是相互交叉或重叠的。

部分红外波段的气体特征吸收谱线图

为了消除这种干扰 准确检测待测组分浓度 仪器必须设置滤波气室或干涉滤光片 使这些干扰组分的特征吸收波长在进入测量气室或检测器之前就被吸收掉 而只让待测组分的特征吸收波长通过 从而使待测组分浓度和其吸收强度成比例 滤光片由于透过的光接近于单色光 滤波效果更好。

水分广泛存在于工艺气体中。生产状态的变化 预处理运行的变化 环境温度、压力的变化 都会使进入分析器中气样的水含量发生变化。从上图中可以看得出 水分在1~9μm波长范围内有连续的特征吸收波长 而且其吸收波谱和许多组分特征吸收波谱往往是完全重叠的 即使使用滤波气室和滤光片 也不能把这种干扰消除。

THA100S 红外线气体分析仪

减少或降低水分对待测组分的干扰 唯一有效办法是在预处理系统中除水脱湿 降低气样的露点。常用冷却器降温除水或干燥剂吸收除水。

冷却器降温除水是一种较好的方法 可采用带温控系统的冷却器 将气样温度降至5℃ 以便保持气样中水含量恒定在0.85%左右 使它对待测组分产生的干扰恒定 造成的附加误差是恒定值 可加以扣除。

各类干燥剂往往同时吸附其他组分 吸附量受环 境温度压力变化的影响 弄得不好反而会增大附加误差 这种方法仅适用于要求不高的常量分析。在微量分析或重要的分析场合 均应采用冷却器降温除水。