m30圆形接近开关老化测试，5.03.2晶振翻盖探针老化座

m30圆形接近开关老化测试，5.03.2晶振翻盖探针老化座A、型号: 5032（5.0×3.2mm）-4PIN 规格尺寸D、采用特殊的工程塑胶，强度高、寿命长、绝缘性好E、镀金层加厚，触点加厚电镀，超低接触阻抗、高可靠度，使用寿命（翻盖结构20000次）F、我司可提供规格书（布板图）资料，PDF档\CAD档

产品简介

A、产品用途:老化座、测试座，对5032（5.0*3.2）的晶振进行高低温老化测试

B、适用封装: 5032（5.0*3.2）-4PIN晶振

C、探针结构，接触更稳定、体积小。

D、采用特殊的工程塑胶，强度高、寿命长、绝缘性好

E、镀金层加厚，触点加厚电镀，超低接触阻抗、高可靠度，使用寿命（翻盖结构20000次）

F、我司可提供规格书（布板图）资料，PDF档\CAD档

规格尺寸

A、型号: 5032（5.0×3.2mm）-4PIN

B、脚位:4

C、芯片尺寸

:5.0×3.2mm