纳米测量工具（安东帕微米划痕仪MST³针对高需求用户范围广泛的的测试仪）

纳米测量工具（安东帕微米划痕仪MST³针对高需求用户范围广泛的的测试仪）多种划痕测试功能具有多个测试模式由于采用了独特的力传感器控制技术，微米划痕系统可检测载荷偏差，并且通过主动力反馈系统来修正该偏差。微米划痕系统即使在粗糙表面和曲面上也可获得可靠的测量。粘弹性材料表征使用前扫描和多次后扫描测量专利模式 (US 6520004)在划痕之前、过程中和之后，位移传感器 (Dz) 一直记录样品的表面的轮廓。因此，它可以在划痕过程中和划痕之后评估针尖的划入深度。根据时间进行多次后扫描让您可以获得随时间变化聚合物的粘弹性恢复。即使在曲面和粗糙表面也可进行测试

针对高需求用户范围广泛的的测试仪

主要特点

全景成像模式：将所有传感器进行同步，轻松快速地分析涂层结合力和耐划伤性能

安东帕持有美国专利 8261600 和欧洲专利 2065695。全景模式是划痕仪软件最重要的特征。划痕后，您可以选择用选配的自动同步的传感器：声发射、位移、载荷和摩擦力传感器来记录全景。当采用全景成像模式记录时，可以随时重新分析划痕。

粘弹性材料表征使用前扫描和多次后扫描测量专利模式 (US 6520004)

在划痕之前、过程中和之后，位移传感器 (Dz) 一直记录样品的表面的轮廓。因此，它可以在划痕过程中和划痕之后评估针尖的划入深度。根据时间进行多次后扫描让您可以获得随时间变化聚合物的粘弹性恢复。

即使在曲面和粗糙表面也可进行测试

由于采用了独特的力传感器控制技术，微米划痕系统可检测载荷偏差，并且通过主动力反馈系统来修正该偏差。微米划痕系统即使在粗糙表面和曲面上也可获得可靠的测量。

多种划痕测试功能具有多个测试模式

渐近的、恒定的或插入的载荷

多次磨损测试可使用单次或多次

可以快速轻松地更换夹具上的划痕针尖

可使用不同类型的划痕针尖：球形、锥形、维氏、努氏、刀具等

高质量光学成像系统带“自动跟踪聚焦”

集成显微镜包括配置高质量物镜的转塔和 USB 照相机。“跟踪聚焦”功能可以将进行多个划痕的 Z 样品台自动聚焦到正确位置。