pcb盐雾试验测试报告（PCB布局注意事项及静电浪涌测试标准）
pcb盐雾试验测试报告（PCB布局注意事项及静电浪涌测试标准）3.不要将任何电路板走线与可能引入ESD脉冲的信号走线并行。特别是，避免ESD抗扰度低的器件电路板走线与可能受ESD事件影响的电路板走线并行。图5.2 ESD保护二极管电路板走线3.ESD保护二极管ESD耐受性f）IEC 61000-4-2选择保证ESD性能高于系统ESD抗扰度要求的ESD保护二极管。但请注意，ESD保护二极管的ESD性能通常与其总电容成正比。g）IEC 61000-4-5选择电气额定值高于峰值脉冲功率和峰值脉冲电流要求的ESD保护二极管。注意，ESD保护二极管位置影响ESD保护性能。1.ESD保护二极管靠近ESD进入点。2.在来自连接器的电路板走线分支成ESD保护二极管和DUP的两条线路后，使与ESD 保护二极管（包括GND）串联的走线电感降至最低。图5.1钳位电压差取决于ESD保护二极管的位置
4、TVS二极管（ESD保护二极管）的选型指南
图4.1 VRMW，VBR，和信号线电压（VSignal）
选择正确的ESD保护二极管，请注意第3节介绍的主要电气特性。
1.保持被保护信号的质量
a）信号线电压
根据被保护信号线的最大电压，选择具有相应反向击穿电（VBR）或工作峰值反向电压（VRWM）的ESD保护二极管。
b）信号极性
跨GND电平信号（如模拟信号），使用双向ESD保护二极管。
c）信号速度
根据被保护信号线的最大频率，选择总电容（CT）合适的的ESD保护二极管。
2.增强ESD保护性能
d）动态电阻
选择动态电阻（RDYN）尽可能低的ESD保护二极管。
e）钳位电压
根据所需VRWM选择最小钳位电压（VC）的ESD保护二极管。
务必选择VC 低于受保护器件耐受电压的二极管。
3.ESD保护二极管ESD耐受性
f）IEC 61000-4-2
选择保证ESD性能高于系统ESD抗扰度要求的ESD保护二极管。
但请注意，ESD保护二极管的ESD性能通常与其总电容成正比。
g）IEC 61000-4-5
选择电气额定值高于峰值脉冲功率和峰值脉冲电流要求的ESD保护二极管。
注意，ESD保护二极管位置影响ESD保护性能。
1.ESD保护二极管靠近ESD进入点。
2.在来自连接器的电路板走线分支成ESD保护二极管和DUP的两条线路后，使与ESD 保护二极管（包括GND）串联的走线电感降至最低。
图5.1钳位电压差取决于ESD保护二极管的位置
图5.2 ESD保护二极管电路板走线
3.不要将任何电路板走线与可能引入ESD脉冲的信号走线并行。特别是，避免ESD抗扰度低的器件电路板走线与可能受ESD事件影响的电路板走线并行。
6、TVS二极管（ESD保护二极管）的绝对最大额定值
图6.1 ESD保护二极管脉冲波形
绝对最大额定值
定义
ESD保护二极管最大额定值指最大允许电流、电压、功耗和其他电气特性。电路设计中，为
了获得ESD保护二极管最佳性能并且保持器件目标工作寿命周期的可靠性，了解最大额定值至关重要。为保证ESD保护二极管使用寿命和可靠性，不得超过最大额定值。ESD保护二极管根据绝对最大额定值机制定义最大额定值。绝对最大额定值指任何条件下，即使瞬间也不得超过的最高值。如果施加的应力超过规定的额定值，器件可能会永久损坏。不得超过任何绝对最大额定值。因此，应注意电源电压波动、电子器件电气特性变化、电路调整过程中应力可能高于最大额定值、环境温度变化、输入信号波动等情况。应考虑的主要额定值包括ESD保护二极管的ESD容限、峰值脉冲功率、结温和存储温度。这些参数相互关联，不能单独考虑。它们还取决于外部电路条件。尽管绝对最大额定值通常规定的环境温度（Ta）为25°C，但有些规定参数温度条件不同。
静电放电电压（IEC 61000-4-2）（接触），VESD
指接触放电ESD容限，即通过与受保护器件直接接触放电。ESD容限是根据国际电工委员会（IEC）IEC 61000-4-2标准规定的方法和ESD波形测量的。规定的VESD值是测试波形的峰值。
静电放电电压（IEC 61000-4-2）（空气），VESD
指空气放电ESD容限，即被测器件（EUT）与放电枪之间通过空气层放电。IEC 61000-4-2规定了试验方法和ESD波形。
峰值脉冲功率（tp＝8／20μs），PPK
PPK是ESD保护二极管本身损坏之前可以分流的最大浪涌功率。图6.1显示使用8/20μs脉冲波形测量的峰值脉冲功率。(8／20μs表示波形上升到100%需要8μs，从100%下降到50%需要20μs。)
峰值脉冲电流（tp = 8/20μs），IPP
IPP是ESD保护二极管本身损坏之前可以分流的峰值脉冲电流。
图6.1显示使用IEC 61000-4-5规定测试波形测量的峰值脉冲电流。
结温，Tj
Tj是ESD保护二极管可以不劣化或自损坏的情况下工作的最高结温。
存储温度，Tstg
Tstg是ESD保护二极管不加电压的情况下可以存储和运输的环境温度范围。
图6.2 IEC 61000-4-2测试
IEC 61000-4-2和IEC 61000-4-5旨在确保电子系统在日常环境中静电放电的情况下不降级或不损坏。
1. IEC 61000-4-2测试（ESD抗扰度测试：人体放电模型）
与人体放电模型（HBM）的情况一样，这个测试模拟带电人体可能产生的放电。ESD测试采用两种方法：
- 直接放电：测试人体直接接触系统或设备暴露的金属表面可能产生的放电。
- 空气放电：测试当表面涂有树脂或其他涂层材料的被测设备（EUT）与放电枪之间可能通过空气层产生的放电。
这些ESD测试是国际电工委员会（IEC）IEC 61000-4-2标准规定测试。
东芝ESD保护二极管采用直接放电和空气放电两种方法进行测试。
图6.3 IEC 61000-4-5测试
2. IEC 61000-4-5测试（浪涌抗扰度测试：雷电浪涌测试）
浪涌抗扰度测试也称雷电浪涌测试，模拟直接雷电产生的瞬态现象，以及附近雷电感应引起的电压和电流浪涌。该测试还包括大型机器电源接通时可能出现的瞬态开关现象，如负载急剧变化和负载短路。在施加浪涌电流电平和周期方面，IEC 61000-4-5测试是最严格的系统级浪涌抗扰度测试。
浪涌抗扰度测试是IEC 61000-4-5标准规定测试。
