襄阳透射电镜技术方案：现场测试原位球差校正透射电镜

襄阳透射电镜技术方案：现场测试原位球差校正透射电镜可拍摄。主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构、成分分析。测试样例仪器概要日本电子JEM-ARM200F为电子光学系统标准配备了一体化球差校正器，电气和机械性能的稳定性也达到极限水平 使扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率达到0.08nm 成为商用透射电子显微镜中的世界之最。电子束在像差校正之后 束流密度比传统的透射电子显微镜高出一个数量级。

原位球差校正透射电镜

球差校正透射电镜(ACTEM)

JEOL JEM-ARM200F

测试项目

• HRTEM
• STEM-HAADF/ABF
• EDS Mapping
• EELS Mapping
• 磁性非磁性样品均可
• 原位测试请咨询

测试样例

• 样例

仪器概要

日本电子JEM-ARM200F为电子光学系统标准配备了一体化球差校正器，电气和机械性能的稳定性也达到极限水平 使扫描透射像(STEM-HAADF)分辨率达到0.08nm 成为商用透射电子显微镜中的世界之最。电子束在像差校正之后 束流密度比传统的透射电子显微镜高出一个数量级。

主要用于材料的高分辨形貌观察和微区的晶体结构、成分分析。

可拍摄。

技术参数

• 电子枪：冷场发射电子枪；
• TEM点分辨率：0.1nm(200kV)；
• TEM晶格分辨率：0.072nm(200kV)；
• STEM分辨率：0.078nm(200kV)；
• EDS能量分辨率：133eV；
• EELS分辨率：0.5eV(电流10uA以下 200kV)

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