stresstech残余应力仪：Xstress便携式残余应力和残留奥氏体分析仪

stresstech残余应力仪：Xstress便携式残余应力和残留奥氏体分析仪残余应力X射线测试仪

x射线衍射仪Xstress 代表先进的设计和施工，提供增强的可靠性和功能在一个真正的便携式残余应力和残留奥氏体分析仪。 Bi-axial和三轴应力状态分析与旋转衍射仪是高效和自动化。

便携式残余应力和残留奥氏体分析仪

• 非破坏性
• 适用于实验室、工厂和­领域使用
• 旋转衍射仪使bi-axial和三轴应力状态的分析
• 在10分钟内快速组装 可以使用
• 简单替代x射线管(铬、铜、Co、铁、V、钛、锰)使测量不同材料
• 测量距离50毫米
• 两个NMOS位置灵敏探测器
• 立即可调2θ-angle
• XTronic软件运行的测量和计算残余应力和残余奥氏体含量(可选)
• d-sin²χ和Ω-measurement模式作为标准

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